Лаборатория применения аналитического оборудования СМА
Хаханов Сергей Николаевич руководитель лаборатории
Наименование лаборатории:
Лаборатория применения аналитического оборудования СМА
Наименование лаборатории:
Хаханов Сергей Николаевич
Наименование организации:
Общество с ограниченной ответственностью «Системы для микроскопии и анализа»
Регион:
г. Москва
Юридический адрес:
Россия, 119119, г. Москва, Ленинский проспект д. 42
Фактический адрес:
Россия, 143025, г. Москва, Одинцовский район, д. Сколково, ул. Новая, д.100 корпус "Урал"
Телефон:
+7 (495) 933-43-17
URL:
http:// www.microscop.ru
E-mail:
microscop@microscop.ru

Лаборатория применения аналитического оборудования СМА - уникальный проект для российского рынка научных сервисов. Это открытая независимая лаборатория, обладающая современными системами для оптической, растровой, ионной, просвечивающей микроскопии, а также рентгеновской томографии высокого разрешения, трехмерной микроскопии, фотоэлектронной спектроскопии, анализа частиц методом прямого определения размеров, элементного микроанализа.

Современная высокотехнологичная инфраструктура лаборатории позволяет оказывать широкий спектр услуг и решать актуальные задачи в различных областях: микроэлектронике, науке о живом, природных ресурсах, материаловедении.

Лаборатория применения аналитического оборудования ООО «СМА» соответствует требованиям Системы добровольной сертификации продукции наноиндустрии «НАНОСЕРТИФИКА», предъявляемым к испытательным лабораториям (центрам), и признана технически компетентной и независимой (Аттестат № РОСС RU.И750.НЖ01.21ИЛ10).

Испытательные возможности

Объекты испытаний (измерений)

Характеристики (показатели) объекта испытаний (измерений)

Испытательное оборудование и средства измерений

Ультрадисперсные порошки, нанопористые мембраны

Линейные размеры, морфологические характеристики

Растровый электронно-ионный микроскоп Helios 660 NanoLab,

Растровый электронно-ионный микроскоп FEI Versa 3D LowVac

Изделия наноэлектроники

Топологические размеры конструктивных элементов

Рентгеновский микротомограф Xradia VersaXRM-500

Тонкие пленки

Гетероструктуры

Углеродные волокна

Конструкционные материалы

Композиты

Выявление, визуализация и структурные исследования наносоставляющих компонентов

Просвечивающий электронный микроскоп Tecnai F20

Растровый электронно-ионный микроскоп FEI Versa 3D LowVac,

Растровый электронно-ионный микроскоп Helios 660 NanoLab,

Рентгеновский микротомограф XradiaVersaXRM-500,

Рентгенофлуоресцентный спектрометр Orbis PC Micro-XRF Analyzer

Выявление, визуализация и структурные исследования 

наноразмерных включений, дефектов, неоднородностей

Элементный и фазовый состав материалов

Биологические объекты

Неразрушающие исследования объемных наноразмерных структур с расчётом пористости, объема, площади поверхности и др.

Детекция молекулярных структур (белков, жиров, углеводов и т.д.)
Цитологические и гистологические исследования тканей, клеток, субклеточных структур
Элементный и химический анализ примесей методами рентгеноспектрального анализа рентгенофазового анализа рентгеновской, фотоэлектронной спектроскопии
Образцы нефтегазовых пород Визуализация, характеризация, количественный анализ пустотного пространства (трещины, поры, каверны) и включений.
Определение химического и минерального составов.
Определение наличия и качественная типизация органического вещества.
 Рентгеновский 3D-микроскоп XradiaVersaXRM-500,
Рентгеновский микротомограф FEI Heliscan microCT,
Система автоматизированного определения минерального состава FEI QEMSCAN WellSite,
Конфокальный флуоресцентный микроскоп FEI CorrSight,
Растровый электронно-ионный микроскоп FEI Versa 3D LowVac,
Просвечивающий электронный микроскоп FEI Tecnai G2 F20 S-Twin,
Рентгенофотоэлектронный спектрометр PHI VersaProbe II,
Рентгенофлуоресцентный спектрометр Orbis PC Micro-XRF Analyzer

Вернутся в список участников