Центр оценки соответствия продукции наноиндустрии
Максим Владимирович Дорогов руководитель лаборатории
Наименование лабораторий:
Центр оценки соответствия продукции наноиндустрии
Руководитель лабораторий:
Максим Владимирович Дорогов
Наименование организации:
Центр оценки соответствия продукции наноиндустрии федерального государственного бюджетного образовательного учреждения высшего образования «Тольяттинский государственный университет»
Регион:
Самарская область, г. Тольятти
Юридический адрес:
Россия, 445667, Самарская обл., г. Тольятти, ул. Белорусская, 14
Фактический адрес:
Россия, 445667, Самарская обл., г. Тольятти, ул. Белорусская, 14
Телефон:
+7 (8482) 53 94 21
URL:
http://www.tltsu.ru
E-mail:
maxim@tltsu.ru

Тольяттинский государственный университет – это одна из лучших площадок для создания и исследования инновационных проектов. Тематика проектов самая широкая: по сути, представлены все стратегические направления, признанные таковыми для страны: рациональное природопользование, здоровье человека, безопасность, нанотехнологии, энергетика и энергосбережение и многое другое.

Тольяттинский государственный университет – опорный вуз, системообразующий университет для ряда отраслей промышленности, в которых лидирующая роль принадлежит Самарской области и Поволжью, градообразующий вуз и научный центр Тольятти. В университете динамично развиваются 17 научных направлений (научных школ), сложившихся за многолетнюю историю вуза. Направления научных работ определяются требованиями города, региона и страны. Значительная часть научных исследований проводится в рамках программ по приоритетным направлениям науки и техники.

Центр оценки соответствия продукции наноиндустрии ФГБОУ ВО «Тольяттинский государственный университет» соответствует требованиям Системы добровольной сертификации продукции наноиндустрии «НАНОСЕРТИФИКА», предъявляемым к испытательным лабораториям (центрам), и признан технически компетентным и независимыми (Аттестат № РОСС RU.И750.НЖ01.21ИЦ06).

Испытательные возможности

Объекты испытаний (измерений)

Характеристики (показатели) объекта испытаний (измерений)

Испытательное оборудование и средства измерений

Наночастицы, нанопорошки

Размер:

линейные размеры, морфологические характеристики, распределение частиц по размерам

Конфокальный лазерный сканирующий микроскоп LEXT - OLS4000

Микроскоп электронный растровый настольный JCM-6000

Микроскоп электронный растровый Zeiss Sigma

Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47 pro, NEXT

Лазерный дифракционный анализатор размера частиц Shimadzu SALD-2300

Состав:

элементный, химический (молекулярный), фазовый состав

Приставки к СЭМ Zeiss Sigma: EDAX EDS APPOLO X, EDAX EBSD

Энергодисперсионный рентгеновский флуоресцентный спектрометр EDX-8000

Спектрометр оптико-эмиссионный Foundry- Master

Рентгеновский дифрактометр Shimadzu XRD -7000

Фурье спектрофотометр инфракрасный IRTracer-100

Спектрофотометр атомно-абсорбционный AA-7000

Параметр кристаллической решетки, внутренние напряжения*

Рентгеновский дифрактометр Shimadzu XRD -7000

Оптические свойства:*

спектры плазмонного резонанса наночастиц металлов; определение ширины запрещенной зоны у полупроводников; спектры поглощения наночастиц полупроводников (экситонные уровни); спектры люминесценции

Спектрофотометр ПЭ-5400УФ

Спектрофлуориметр RF-6000

Спектрометр UV-2600

Теплоемкость*, энтальпия* химической реакции и фазовых переходов

Дифференциальный сканирующий калориметр X-DSC7000

Удельная поверхность*

Анализатор газо-адсорбционный Surfer

Наноструктурированные материалы

Структура.

Микроскоп электронный растровый Zeiss Sigma

Рентгеновский дифрактометр Shimadzu XRD -7000

Элементный состав

Приставки к СЭМ Zeiss Sigma: EDAX EDS APPOLO X, EDAX EBSD

Энергодисперсионный рентгеновский флуоресцентный спектрометр EDX-8000

Спектрометр оптико-эмиссионный Foundry- Master

Параметр кристаллической решетки, внутренние напряжения*

Рентгеновский дифрактометр Shimadzu XRD -7000

Размеры фракталов

Конфокальный лазерный сканирующий микроскоп LEXT - OLS4000

Микроскоп электронный растровый настольный JCM-6000

Микроскоп электронный растровый Zeiss Sigma

Наличие дефектов и неоднородностей

Микроскоп электронный растровый настольный JCM-6000

Микроскоп электронный растровый Zeiss Sigma

Рентгеновский дифрактометр Shimadzu XRD -7000

Механические характеристики и трибологические свойства (твердости, износостойкости, на сжатие, изгиб и др.)

Стационарный измеритель твердости по Роквеллу ТН300

Система для оценки физико-механических свойств тонких покрытий, пленок, подложек Nanovea

Тестер для оценки трибологических свойств поверхности образцов Nanovea TRB

Универсальная испытательная машина Н50КТ

Универсальная испытательная машина WDW

Серво-гидравлические испытательные системы Instron 8802, 8872

Оптические свойства:*

ширина запрещенной зоны у полупроводников; спектры люминесценции

Спектрофлуориметр RF-6000

Спектрометр UV-2600

Теплоемкость*, энтальпия* химической реакции и фазовых переходов

Дифференциальный сканирующий калориметр X-DSC7000

Удельная поверхность*, пористость*, количество активных центров*

Анализатор газо-адсорбционный Surfer

Поверхность изделий наноиндустрии

Структура

Микроскоп электронный растровый Zeiss Sigma

Рентгеновский дифрактометр Shimadzu XRD -7000

Элементный состав

Приставки к СЭМ Zeiss Sigma: EDAX EDS APPOLO X, EDAX EBSD

Энергодисперсионный рентгеновский флуоресцентный спектрометр EDX-8000

Параметры решетки

Рентгеновский дифрактометр Shimadzu XRD -7000

Рельеф

Сканирующий электронный микроскоп Jeol 6000, Zeiss Sigma

Зондовый сканирующий микроскоп Solver p47 Pro, NEXT

Металлографический комплекс Thixomet SmartDrive на базе оптического микроскопа Axiovert 40mat с анализатором изображений Thixomet PRO

Шероховатость

Зондовый сканирующий микроскоп Solver p47 Pro, NEXT

Интерференционный микроскоп ZYGO 7100

Конфокальный лазерный сканирующий микроскоп LEXT - OLS4000

Трибологические характеристики

Тестер для оценки трибологических свойств поверхности образцов Nanovea TRB

Удельная поверхность*, пористость*, количество активных центров*

Анализатор газо-адсорбционный Surfer

Покрытия поверхности изделий наноидустрии

Толщина

Рентгеновский дифрактометр Shimadzu XRD -7000

Энергодисперсионный рентгеновский флуоресцентный спектрометр EDX-8000

Сканирующий электронный микроскоп Jeol 6000, Zeiss Sigma

Элементный состав

Приставки к СЭМ Zeiss Sigma: EDAX EDS APPOLO X, EDAX EBSD

Энергодисперсионный рентгеновский флуоресцентный спектрометр EDX-8000

Параметры кристаллической решетки

Рентгеновский дифрактометр Shimadzu XRD -7000

Шероховатость

Зондовый сканирующий микроскоп Solver p47 Pro, NEXT

Интерференционный микроскоп ZYGO 7100

Конфокальный лазерный сканирующий микроскоп LEXT - OLS4000

Рельеф

Сканирующий электронный микроскоп Jeol 6000, Zeiss Sigma

Зондовый сканирующий микроскоп Solver p47 Pro, NEXT

Металлографический комплекс Thixomet SmartDrive на базе оптического микроскопа Axiovert 40mat с анализатором изображений Thixomet PRO

Механические характеристики и трибологические свойства (твердости, износостойкости, на сжатие, изгиб и др.)

Стационарный измеритель твердости по Роквеллу ТН300

Система для оценки физико-механических свойств тонких покрытий, пленок, подложек Nanovea

Тестер для оценки трибологических свойств поверхности образцов Nanovea TRB

Универсальная испытательная машина Н50КТ

Универсальная испытательная машина WDW

Серво-гидравлические испытательные системы Instron 8802, 8872

Оптические свойства:*

ширина запрещенной зоны у полупроводников; спектры люминесценции

Спектрофлуориметр RF-6000

Спектрометр UV-2600

Удельная поверхность*, пористость*, количество активных центров*

Анализатор газо-адсорбционный Surfer

Наногетероструктурные элементы, многослойные покрытия

Толщина слоев

Рентгеновский дифрактометр Shimadzu XRD -7000

Энергодисперсионный рентгеновский флуоресцентный спектрометр EDX-8000

Сканирующий электронный микроскоп Jeol 6000, Zeiss Sigma

Структура слоев

Сканирующий электронный микроскоп Jeol 6000, Zeiss Sigma

Рентгеновский дифрактометр Shimadzu XRD -7000

Элементный состав слоев

Приставки к СЭМ Zeiss Sigma: EDAX EDS APPOLO X, EDAX EBSD

Энергодисперсионный рентгеновский флуоресцентный спектрометр EDX-8000

Химические соединения слоев

Спектрометр оптико-эмиссионный Foundry- Master

Рентгеновский дифрактометр Shimadzu XRD -7000

Фурье спектрофотометр инфракрасный IRTracer-100

Механические характеристики

Стационарный измеритель твердости по Роквеллу ТН300

Система для оценки физико-механических свойств тонких покрытий, пленок, подложек Nanovea

Универсальная испытательная машина Н50КТ

Универсальная испытательная машина WDW

Серво-гидравлические испытательные системы Instron 8802, 8872

Трибологические свойства

Тестер для оценки трибологических свойств поверхности образцов Nanovea TRB

Оптические свойства:*

ширина запрещенной зоны у полупроводников; спектры люминесценции

Спектрофлуориметр RF-6000

Спектрометр UV-2600

Теплоемкость*, энтальпия* химической реакции и фазовых переходов

Дифференциальный сканирующий калориметр X-DSC7000

Удельная поверхность*, пористость*, количество активных центров*

Анализатор газо-адсорбционный Surfer

Наносодержащая продукция

Элементный состав слоев

Приставки к СЭМ Zeiss Sigma: EDAX EDS APPOLO X, EDAX EBSD

Энергодисперсионный рентгеновский флуоресцентный спектрометр EDX-8000

Механические характеристики

Стационарный измеритель твердости по Роквеллу ТН300

Система для оценки физико-механических свойств тонких покрытий, пленок, подложек Nanovea

Тестер для оценки трибологических свойств поверхности образцов Nanovea TRB

Универсальная испытательная машина Н50КТ

Универсальная испытательная машина WDW

Серво-гидравлические испытательные системы Instron 8802, 8872

Технологические свойства

Тестер для оценки трибологических свойств поверхности образцов Nanovea TRB

Потенциостат-гальваностат P-8nano

Дифференциальный сканирующий калориметр X-DSC7000

Спектрофлуориметр RF-6000

Спектрометр UV-2600

Анализатор газо-адсорбционный Surfer


* - Измерение данных характеристик не входит в область аккредитации центра. Однако центр располагает необходимым оборудованием и персоналом для их проведения.


Вернутся в список участников